粉末XRD測定は，無機物質の結晶構造の同定に用いられる代表的な定性分析の1つである．粉末Ｘ線回折実験により得られる回折プロファイルを，結晶構造やピークプロファイルといったパラメータから再現されるパターンで最小二乗法フィッティングを行うことにより，結晶構造パラメータを精密化する．この手法はオランダの結晶学者ヒューゴ・リートベルト（Hugo Rietveld）により考案された．
現在，研究者に広く使われているプログラムとして，物質・材料研究機構の泉富士夫博士が開発したRIETAN-FPなどがあり，本講座ではこのプログラムのインストールから使い方を学ぶ．

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