透過型電子顕微鏡（TEM）は，金属，セラミックス，有機，生物等の様々な材料の微小領域の観察や分析に用いられています．

　TEMでは，

　　①ナノメートルからマイクロメートルオーダーでの試料の形状・サイズの観察，

　　②元素分析装置の併用によって微小領域の組成分析，

　　③電子線回折からは微小領域の結晶構造情報の取得　が可能です．

　この講座では，はじめにTEM装置の仕組みについて概説し，TEMで得られる情報とその活用方法について紹介します．

　また，実際にTEM操作を体験しTEM像を取得します．実機に触れて学べる絶好の機会です．ぜひご参加ください．

透過型電子顕微鏡 JEM-2100

終了しました。